故障率の計算

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定常状態のFIT（Failure In Time）を計算 = λ_Gπ_Qπ_Sπ_T （10億時間当たりの故障回数）、Telcordia Technologies Special Report SR-332, Issue 1, May 2001。

以下の場合：
λ_G = Telcordia SR-332, Table 7-1（90％上位信頼レベル）より選択
π_Q = 1.0（Telcordia SR-332, Table 7-4 品質レベル IIより）
π_S = 1.0（Telcordia SR-332, Table 7-6より、電気ストレスレベル50％を想定）
π_T = 2.0（温度+85°C で計算、Table 7-7 E_a 活性化エネルギー = 0.15 eVper）

	定常状態のFIT （10億時間当たりの故障回数）	MTBF* （時間）
RFマグネティックス
チップインダクタ（全サイズ）	1.0	1,000,000,000
空芯「スプリング」インダクタ（全サイズ）	1.0	1,000,000,000
90シリーズアキシャルリードインダクタ	1.0	1,000,000,000
RFID	1.0	1,000,000,000
同調インダクタ（ユニコイル、スロットシリーズ）	2.0	500,000,000
円錐型ブロードバンドインダクタ	38	26,315,789
ワイドバンドRFトランスフォーマ、チップトランスフォーマ、バラン、方向性結合機	60	16,666,667
パワーマグネティックス

パワーチップインダクタ（PS、FS – 全サイズ）	38	26,315,789
SMTインダクタ（DH、DO、DS、DT、EPL、LPD、LPO、LPS、ME、MLC、 MOS、MSD、MSS、MVR、PFL、SER、SLC、XAL、XFL、XPLシリーズ）	38	26,315,789
結合パワーインダクタ（LPD、MSD、PFD）	38	26,315,789
固定インダクタ（PCH、PCV、DMT、Mag Amps等）	38	26,315,789
トランス（ベース/ゲートドライブ、力率コントローラ、プレーナトランス、 CCFL等）	38	26,315,789
電流センサ	38	26,315,789
EMI マグネティックスおよびLCフィルタ
フィルタコイル（PDLF、PTRF、CCDLF、TTDLF、DLF等）	38	26,315,789
コモンモードチョーク（DLF、PDLF、CCDLF、TTDLF、TRF、 PTRF、TTTRF、P32xx、BU、USBシリーズ等）	38	26,315,789
フィルタ付きコネクタ（TRFRJ、PCRJ等）	38	26,315,789
フィルタアセンブリ（PxLP、SxxP等）	12	83,333,333
xDSLマグネティックス
xDSLトランス	38	26,315,789

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